台式X荧光光谱仪非真空能量色散X荧光光谱仪：
EDX-6000X荧光光谱仪融合经验系数法、基本参数法等分析方法，测试数据的准确性能得到全面保证。
<spanyes';font-family:宋体;mso-ascii-font-family:calibri; face="宋体" font="" new="" times="" style="box-sizing: border-box;">
<spanyes';font-family:宋体;mso-ascii-font-family:calibri; face="宋体" font="" new="" times="" style="box-sizing: border-box;">
EDX-6000X荧光光谱仪基本参数法（FP法）：仪器根据实际检测物质，通过对多种物理量建模计算确定参数。对标准样品要求不高，计算较复杂，适合缺少对应标样的物质检测。
EDX-6000X荧光光谱仪经验系数法：仪器依据对标准样品的测定，确定影响系数。对标准样品要求高，需和待测样品类型相近，校正模型简单。
软件功能
元素含量分析范围为2 PPm到99.99%
采用内标校正，提高非定性式样测量精度
用户自定义多曲线多光谱拟和分析方法
全自动定量分析报告简捷准确
自适应初试化校正
光谱的自动获取和显示。
具有自动检测仪器工作状态的功能。
自动判别样品及自动分析。提供扩展接口，进一步作其他元素分析，从钙到铀元素。
硬件
美国进口探测器，高速脉冲高度分析系统
美国SPELLMAN高压发生器
美国进口前置放大器，与美国进口探测器兼容性好
美国进口主放大器，与美国进口探测器兼容性好
美国进口AD转换模块，与美国进口探测器兼容性好
尺寸＆重量
电源：550220V±10％ 50Hz
环境温度：10℃-28℃
环境湿度：≤70 ％RH(25℃室温）
产品优势
台式X荧光光谱仪非真空能量色散X荧光光谱仪：
无损检测
在无标准样品时亦可准确分析
测量时间比化学方法短，不需要辅助材料
计算机进行数据处理，分析快速准确
高分辨率图形即时显示，由不同色块加以判断区分
硅半导体探测器
元素含量分析范围为2 PPm到99.99%
采用BG内标校正，提高非定性式样测量精度
全自动定量分析报告简捷准确
自适应初试化校正
光谱的自动获取和显示
具有自动检测仪器工作状态的功能
自动判别样品及自动分析
技术参数：
|
